棱鏡耦合儀
高精度膜厚,折射率和光波導測試,不必預先知曉測試膜厚和折射率,可測量雙膜結構中的每一單膜厚度及折射率。測試膜厚范圍:120nm-150um,折射率范圍1-3.35,常規折射率分辨率±0.0005.

光纖光譜儀
便攜式,對5nm到200um范圍內的單層或者多層膜進行快速測試,通過觀測樣品鏡面反射的正弦曲線得到反射和膜厚的光學特性。

Copyright?2013 北京市海淀區中關村大街19號15層辦公B1703.備案號:京ICP備20004272號  |  SP DESIGN 
手机麻将app 今日股票推荐哪个好票 10倍杠杆配资 江苏虚拟足彩e彩开奖 新11选5-快彩乐 2013年上证指数数据 26选5开奖结果广东 股票推荐分析文章 福建31选7中奖新规则 体彩天津十一选五 四川熊猫麻将安卓版 重庆时彩官方 牛360配资 福建11选5查询 浙江麻将怎么打法 福建11选5网上投注 陕西快乐十分